zeta電位儀納米粒度的測(cè)定要求及測(cè)試方法
更新時(shí)間：2022-04-29 點(diǎn)擊次數(shù)：1861次
提到zeta電位儀，我們需要先了解一下zeta電位，Zeta 電位基礎(chǔ)理論的創(chuàng)立者是波蘭科學(xué)家斯莫魯霍夫斯基（Smoluchowski）zeta電位是帶電顆粒周圍的溶液中將富集帶相反符號(hào)的離子（即反離子），其中一部分反離子與顆粒表面緊密結(jié)合，構(gòu)成固定吸附層，又稱Stern層；另一部分反離子由于靜電吸引和熱擴(kuò)散兩種相反作用的平衡，分布在顆粒周圍溶液中，構(gòu)成擴(kuò)散層.位于Stern層的反離子由于強(qiáng)大靜電吸引聚集在顆粒表面而Stern層外的離子由于靜電吸引較弱，形成了擴(kuò)散層。兩層之間的邊界被定義為滑動(dòng)層或剪切層。顆粒做電泳運(yùn)動(dòng)時(shí)，會(huì)帶著固定吸附層和部分溶劑分子一起移動(dòng)，與液體之間形成滑動(dòng)面,定義滑動(dòng)面與液體內(nèi)部的電位差為zeta電位儀。
zeta電位儀納米粒度的測(cè)定要求
1、實(shí)驗(yàn)室提供的樣品池測(cè)量溫度不可高于70度；
2、測(cè)量粒徑前，需查知樣品分散劑的粘度、折光指數(shù)、介電常數(shù)；
3、如發(fā)現(xiàn)電極變黑，需更換；
4、用卷紙輕輕點(diǎn)拭樣品池外側(cè)水滴，尤其是兩個(gè)塞子外側(cè)；
5、一定要去除樣品池內(nèi)的氣泡，尤其是電極上氣泡；
6、實(shí)驗(yàn)室提供的樣品池為聚苯乙烯材質(zhì)，不可用于測(cè)量有機(jī)分散體系；
7、使用濾紙過(guò)濾時(shí)，舍去過(guò)濾后的第一滴樣品，以防濾紙上雜質(zhì)進(jìn)入樣品池；
8、在Zeta電位分析儀測(cè)量時(shí)需自帶：卷紙、多個(gè)注射器（5ml）、多個(gè)離心管（用于稀釋樣品）使用使用光盤(pán)；
測(cè)試方法
1、點(diǎn)擊圖標(biāo)，啟動(dòng)Zetasizer軟件
2、點(diǎn)擊軟件中 File – New - Measurement file，創(chuàng)建此次測(cè)試文件，一經(jīng)創(chuàng)建，本次測(cè)試的結(jié)果均自動(dòng)保存在此文件中，無(wú)需另行保存。
制備樣品
3、將制備的樣品注入樣品池，粒徑分布需1.0 ml—1.5 ml，Zeta點(diǎn)位測(cè)量至少需要1.0 ml。
4、{0>點(diǎn)擊Start，即進(jìn)行測(cè)量。
5、使用光盤(pán)拷取數(shù)據(jù)。
